詳細信息 HP-C-VE 光學測頭HP-C-VE能夠安裝在測量機上，實現了大尺寸部件上面微小特征的放大測量。
HH-MI-M可支持任何使用M8螺紋連接的測頭系統或配件，在保證高精度的同時還節省了操作時間，可配置長達50mm的M8螺紋加長桿；標配HP-TMe-SF吸盤，測針最長可接50mm
詳細信息 HP-L-10.6 激光掃描測頭功能完善的交鑰匙方案，通過快速點云采集，完成與CAD 比較測量、自由曲面檢測以及逆向工程等任務。
詳細信息 HP-S-X1 掃描探測系統完善的系統配備，為通用的測量任務提供多種選擇。包括手動、自動測座、模塊化測頭、更換架、探針、加長桿等等。
詳細信息 HP-S-X3 掃描探測系統緊湊、高性價比、超高精確度的三維固定式掃描測頭。
詳細信息 HP-S-X5 掃描探測系統高承載、全三維、固定式掃描測頭，即使在攜帶超長加長桿的情況下也可保證達到極快的速度和極高的精度。增加 X.wl kit 選項，可支持長達800mm，
詳細信息 .HP-OW光學測頭：應用白光共聚焦技術，
詳細信息 HH-A-T5自動旋轉測座，能夠以5分度進行選裝，在測量空間提供2952個位置。該測座能夠快速分度，相對同類產品速度要快。結構牢固，能夠攜帶最長300mm的加長桿。定位重復性0
